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X-RAY熒光鍍層測厚儀

品 牌:費希爾

產 地:德國

型 號:XDL

關鍵詞標簽:X-RAY熒光鍍層測厚儀
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X-RAY熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 係列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發展而來的。與上一代相類似,它非常適用於無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本參數法,因此無論是對鍍層係統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。其測量範圍為元素氯(17)到鈾(92)。適用於客戶進行質量控製、進料檢驗和生產流程監控。

典型的應用領域有:

  • 測量大規模生產的電鍍部件

  • 測量超薄杜策,例如:裝飾鉻

  • 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

  • 全自動測量,如測量印刷線路板

  • 分析電鍍溶液


FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界麵友好的台式測量儀器係列。根據不同的預期用途,有不同的版本。
XDL 210 型的工作台為固定式工作台,固定位置的 Z 軸係統。

XDL 220 型的工作台為固定式工作台,馬達驅動的 Z 軸係統。

XDL 230 型配有可手動操控的 X/Y 工作台,馬達驅動的 Z 軸升降係統。

XDL 240 型則配備了馬達驅動的 X/Y 工作台,當保護門開啟時,工作台會自動移到放置樣品的位置。馬達驅動的可編程 Z 軸升降係統。


XDL係列儀器可選配圓形或長方形準直器,采用比例接收器,測量距離為0-80mm,使用專利保護的DCM測量距離補償法。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度範圍10℃-40℃,空氣相對濕度為≤95%,無結露


計算機要求:帶擴展卡的計算機係統

可按要求,提供額外的XDL型產品更改和XDL儀器技術谘詢


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