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等離子發射光譜儀

品 牌:樱桃社区app下载免费污

產 地:美國

型 號:ELEMENT

關鍵詞標簽:ICP等離子發射光譜儀
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ELEMENT 係列 ICP-MS

您可以從兩種高性能,雙聚焦扇形磁場 Thermo Scientific™ ELEMENT™ 係列 ICP-MS 儀器中選擇,這些儀器針對易用性、穩定性和分析效率進行了優化。ELEMENT 2™ ICP-MS 提供強大的技術來解決特定問題,同時具備優異的靈敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR™ ICP-MS 結合法拉第檢測器與雙模式 SEM 檢測器將 ELEMENT 2 ICP-MS 的線性動態範圍擴展了三個數量級。

描述

在痕量元素定量分析方麵,ICP-MS 最嚴重的限製是對元素信號的多原子幹擾。高質量數分辨率是消除這些幹擾的金標準,可在痕量水平上準確可靠地進行多元素定量分析,樣品製備步驟極為簡便。

多元素分析

多元素檢測器可處理瞬變信號,包括 HPLC、GC 和激光消融。

元素周期表中的無幹擾測量涵蓋基質組分(mg∙L-1)和超痕量元素(低於 1 pg∙L-1)。

最高靈敏度 ICP-MS(低分辨率時)。

靈活性和可用性

高質量數分辨率可獲取譜幹擾同位素,生成清晰的元素譜

對無幹擾或受幹擾同位素進行高精度同位素比分析。

熱等離子體和冷等離子體狀態。

ELEMENT XR ICP-MS

寬線性動態檢測範圍對於 ICP-MS 來說至關重要,因為其允許通過單次運行分析較寬的濃度範圍。

集成式法拉第檢測器的特性:

采樣時間低至 1 ms。

測量高強度峰後無需衰減時間

SEM 和法拉第之間自動切換,延遲時間為 <1 ms。

不同檢測器模式之間的線性交叉範圍較寬(>2 個數量級),允許準確進行自動交叉校正。

動態範圍為 0.2 cps(SEM)到 >1 x 1012 cps(法拉第)。


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